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書誌情報サマリ

書名

X線反射率法入門　新版

著者名 桜井健次／編著
出版者 講談社
出版年月 2018.6
請求記号 5498/00186/

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No. 所蔵館 資料番号 資料種別 配架場所 別置 帯出 状態
1 鶴舞0210895462一般和書２階開架自然・工学在庫 

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書誌詳細

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請求記号 5498/00186/
書名 X線反射率法入門　新版
著者名 桜井健次／編著
出版者 講談社
出版年月 2018.6
ページ数 14,369p
大きさ 21cm
ISBN 978-4-06-153296-0
分類 5498
一般件名 薄膜 　 エックス線 　 非破壊検査
書誌種別 一般和書
内容紹介 X線反射率法の専門的入門書。X線反射率の基礎から、測定装置と測定方法、データ解析法、微小領域分析およびイメージングへの展開、X線反射率法の応用、併用すると有意義な関連技術、中性子の利用までを解説する。
タイトルコード 1001810030725

目次 １　Ｘ線反射率の基礎
２　Ｘ線反射率の測定装置と測定方法
３　Ｘ線反射率のデータ解析法
４　Ｘ線反射率のデータ解析の注意事項
５　微小領域分析およびイメージングへの展開
６　時々刻々変化する系の追跡への展開
７　Ｘ線反射率法の応用
８　Ｘ線反射率法と併用すると有意義な関連技術
９　中性子の利用
著者情報 桜井 健次
　工学博士。１９８８年東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。現在、国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)


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