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一般和書
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書誌情報サマリ

書名

XAFSの基礎と応用

著者名 日本XAFS研究会／編
出版者 講談社
出版年月 2017.7
請求記号 433/00140/

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No. 所蔵館 資料番号 資料種別 配架場所 別置 帯出 状態
1 鶴舞0237172127一般和書２階開架自然・工学在庫 

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書誌詳細

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請求記号 433/00140/
書名 XAFSの基礎と応用
並列書名 Foundations and Applications of XAFS
著者名 日本XAFS研究会／編
出版者 講談社
出版年月 2017.7
ページ数 10,341p
大きさ 21cm
ISBN 978-4-06-153295-3
分類 43357
一般件名 エックス線分光分析
書誌種別 一般和書
内容紹介 物質を構成する特定元素のまわりの局所的な構造を調べる有効な手法として幅広く用いられるX線吸収微細構造(XAFS)分光法。XAFSの理論から、一般的な解析法、実験の基盤技術や応用展開技術、関連手法までを解説する。
タイトルコード 1001710033596

目次 第１章　序論（物質と電磁波の相互作用
Ｘ線吸収分光の歴史）
第２章　ＸＡＦＳの理論（一回散乱ＥＸＡＦＳ
多重散乱理論　ほか）
第３章　ＸＡＦＳの解析（ＥＸＡＦＳの解析
ＲＥＸを用いたＸＡＦＳ解析　ほか）
第４章　ＸＡＦＳ実験（放射光光源
ビームライン光学系　ほか）
第５章　関連手法（軟Ｘ線磁気円二色性、線二色性
硬Ｘ線磁気円二色性　ほか）


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