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一般和書
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書誌情報サマリ

書名

蛍光X線分析の実際

著者名 中井泉／編集 日本分析化学会X線分析研究懇談会／監修
出版者 朝倉書店
出版年月 2005.10
請求記号 433/00055/

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No. 所蔵館 資料番号 資料種別 配架場所 別置 帯出 状態
1 鶴舞0210634549一般和書２階書庫　在庫 

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書誌詳細

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請求記号 433/00055/
書名 蛍光X線分析の実際
著者名 中井泉／編集 　 日本分析化学会X線分析研究懇談会／監修
出版者 朝倉書店
出版年月 2005.10
ページ数 242p
大きさ 26cm
ISBN 4-254-14072-X
分類 43357
一般件名 エックス線分光分析
書誌種別 一般和書
タイトルコード 1009915051335

目次 蛍光Ｘ線分析の基礎
蛍光Ｘ線スペクトル
蛍光Ｘ線分析装置
よりよいスペクトルを測定するためのテクニック
試料調製法
定量分析
標準物質
全反射蛍光Ｘ線分析
Ｘ線顕微鏡
ＳＥＭ‐ＥＤＳ
めっき・薄膜の分析
超薄膜の分析
蛍光Ｘ線分析の実際：応用事例集
放射光利用
分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
法令と届出（蛍光Ｘ線分析装置の場合）
著者情報 中井 泉
　１９５３年東京都に生まれる。１９８０年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了。東京理科大学理学部応用化学科・教授。理学博士(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)


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