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一般和書
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書誌情報サマリ

書名

表面分析　(分析化学実技シリーズ)

著者名 石田英之／[ほか]著
出版者 共立出版
出版年月 2011.8
請求記号 5015/00018/

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No. 所蔵館 資料番号 資料種別 配架場所 別置 帯出 状態
1 鶴舞0235859360一般和書２階開架自然・工学在庫 

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書誌詳細

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請求記号 5015/00018/
書名 表面分析　(分析化学実技シリーズ)
著者名 石田英之／[ほか]著
出版者 共立出版
出版年月 2011.8
ページ数 182p
大きさ 21cm
シリーズ名 分析化学実技シリーズ
シリーズ名 応用分析編
シリーズ巻次 1
ISBN 978-4-320-04391-6
分類 50157
一般件名 工業分析 　 表面(工学)
書誌種別 一般和書
内容紹介 赤外・ラマン分光法、X線光電子分光法、二次イオン質量分析法、飛行時間型二次イオン質量分析法を取り上げ、その原理と実際の応用例を中心に解説する。
タイトルコード 1001110055766

目次 １　表面分析序論（表面分析の目的・背景
表面分析の手法　ほか）
２　赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴
ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴　ほか）
３　Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴
ＸＰＳ装置　ほか）
４　二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴
ＳＩＭＳの装置　ほか）
５　番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ
Ｓｔａｔｉｃ　ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴
ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置　ほか）
付録　主な元素の化学シフト


内容細目表：

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