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一般和書
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書誌情報サマリ

書名

固体表面キャラクタリゼーションの実際　ナノ材料に利用するスペクトロスコピー

著者名 田中庸裕／編 山下弘巳／編
出版者 講談社
出版年月 2005.02
請求記号 433/00052/

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No. 所蔵館 資料番号 資料種別 配架場所 別置 帯出 状態
1 鶴舞0234618866一般和書２階開架自然・工学在庫 

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書誌詳細

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請求記号 433/00052/
書名 固体表面キャラクタリゼーションの実際　ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
著者名 田中庸裕／編 　 山下弘巳／編
出版者 講談社
出版年月 2005.02
ページ数 196p
大きさ 21cm
ISBN 4-06-154325-3
分類 43357
一般件名 スペクトル分析 　 固体 　 表面(工学)
書誌種別 一般和書
タイトルコード 1009914073242

要旨 何が測定でき、何がわかるか？この疑問に答えるナノテク研究者必携のコンパクトな入門書！ナノ材料の表面構造と物性を観察・評価するために、不可欠なスペクトロスコピーの測定技術と解釈方法をそれぞれの専門家がやさしく解説。光触媒、カーボンナノチューブ、燃料電池材料などの先端材料のキャラクタリゼーションが一目でわかる。
目次 固体表面・固体材料のキャラクタリゼーション
Ｘ線一般・ＸＲＤ（Ｘ線回折）
ＸＰＳ（Ｘ線光電子分光）
ＸＡＦＳ（Ｘ線吸収微細構造）
ＵＶ／ＶＩＳ（紫外／可視）・ＰＬＳ（光ルミネセンス）
ＩＲ（赤外）・Ｒａｍａｎ（ラマン）分光法
ＥＳＲ（電子スピン共鳴）
ＮＭＲ（核磁気共鳴）
ＴＥＭ（透過電子顕微鏡）・ＳＥＭ（走査電子顕微鏡）
ＳＴＭ（走査トンネル顕微鏡）・ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）
昇温スペクトル
ＭＳ（質量分析）・ＳＩＭＳ（二次イオン金属分析）
ＣＶ（サイクリックボルタンメトリー）
「目で学ぶ」ケーススタディー
著者情報 田中 庸裕
　工学博士。１９８７年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。北海道大学理学部助手、京都大学大学院工学研究科助教授を経て、京都大学大学院工学研究科教授（分子工学専攻）(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
山下 弘巳
　工学博士。１９８７年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、大阪大学大学院工学研究科教授（マテリアル応用工学専攻）(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)


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