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書誌情報サマリ

書名

信頼性物理　物理・化学モデルに基づく信頼性検証技術

著者名 門田靖／著 藤本直伸／著 木村忠正／監修
出版者 日科技連出版社
出版年月 2022.5
請求記号 5096/00621/

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No. 所蔵館 資料番号 資料種別 配架場所 別置 帯出 状態
1 鶴舞0238054050一般和書２階開架自然・工学在庫 

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書誌詳細

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請求記号 5096/00621/
書名 信頼性物理　物理・化学モデルに基づく信頼性検証技術
著者名 門田靖／著 　 藤本直伸／著 　 木村忠正／監修
出版者 日科技連出版社
出版年月 2022.5
ページ数 10,324p
大きさ 21cm
ISBN 978-4-8171-9759-7
分類 5096
一般件名 信頼性(工学)
書誌種別 一般和書
内容紹介 信頼性物理を中心とした検証技術を体系的に解説。部品・材料の故障を物理的・化学的に原子・分子、ナノ構造として捉え、改善、評価、選別、使い方、装置システムの信頼性設計、保全に役立つよう、原因を解明する。
書誌・年譜・年表 文献:章末
タイトルコード 1002210014236

要旨 世の中の市場や工程で発生した故障の事例は膨大で、一人の技術者もしくは組織として多くの知識を保有し、再発・未然防止に活用するのは困難です。本書は、この大きな課題に対する対応策の一つとして、「信頼性物理ベースでのアプローチ」が有効であるとの考えから執筆されたものです。「信頼性物理」を支えるベースとして、特に、物理的故障解析、信頼性試験、統計的データ解析の解説が充実しており、信頼性技術者にとって有益な信頼性に関する幅広い内容が含まれています。さまざまな環境が激変する現在、信頼性技術を見つめ直し、あらゆる業界・製品・技術分野に対応できる技術者になるための必読の書です。
目次 これからの技術課題に立ち向かう信頼性物理
第１部　信頼性の基礎と物理的信頼性検証技術（信頼性の基礎
信頼性工学体系と妥当性検証技術
物理的信頼性検証技術）
第２部　故障に至る代表的な因子（信頼性物理に基づく信頼性創り込み
温度
湿度
応力）
第３部　故障メカニズムを説明する物理的・化学的反応（故障メカニズム解明に対する故障解析と信頼性試験の役割
表面・界面の特性と拡散による断線・劣化現象
化学的酸化・腐食による劣化現象
電気的絶縁破壊現象
機械的ストレスによる裁断・摩耗・劣化現象
複合環境による故障メカニズム）
まとめと今後必要となる物理的検証技術
著者情報 木村 忠正
　１９４３年生まれ。１９７０年、東京大学大学院工学系研究科電子工学専攻博士課程修了、工学博士（東京大学）。１９７０年〜２００９年、電気通信大学専任講師、助教授、教授、理事（兼副学長）、電気通信大学名誉教授。２０１０年〜２０１６年、科学技術振興機構プログラム主管。オプトエレクトロニクス、ＣＶＤダイヤモンド、シリコンフォトニクス、半導体故障物理などの研究に従事(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
門田 靖
　１９５９年生まれ。東京都立大学理学部物理学科卒業。電子通信大学大学院博士課程修了。博士（工学）。１９８１年、（株）リコー入社。本社ＱＡ部門において信頼性・製品安全・環境安全・品質戦略関連部署長を歴任。現在、Ｒ＆Ｄ部門において新規デバイスの信頼性技術開発に携わる(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
藤本 直伸
　１９５５年生まれ。１９７３年、三菱電機（株）入社。品質保証部門・ＬＳＩ研究所（太陽電池開発など）において、部品の品質保証（信頼性試験、故障解析など）を実施。高信頼性電子機器（防衛・車載・宇宙）に使用される部品の品質保証のために国内外の部品メーカの工場サーベイと品質改善を行った。現在、内藤電誠工業（株）技術顧問として、宇宙用ロケット（Ｈ‐３、イプシロンなど）開発支援やＪＡＸＡ関連の技術支援を行っている(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)


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