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本のないよう

一般和書
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ぞうしょじょうほう

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しょしじょうほうサマリ

本のだいめい

材料の評価システム　(材料テクノロジー)

書いた人の名前 岸輝雄／[ほか]著
しゅっぱんしゃ 東京大学出版会
しゅっぱんねんげつ 1987
本のきごう N5015/00025/

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本のばしょ

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No. としょかん 本のばんごう 本のしゅるい 本のばしょ くわしいばしょ せいげん じょうたい
1 鶴舞0230645327一般和書２階書庫　在庫 

かんれんしりょう

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しょししょうさい

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本のきごう N5015/00025/
本のだいめい 材料の評価システム　(材料テクノロジー)
書いた人の名前 岸輝雄／[ほか]著
しゅっぱんしゃ 東京大学出版会
しゅっぱんねんげつ 1987
ページすう 199p
おおきさ 21cm
シリーズめい 材料テクノロジー
シリーズかんじ 8
ISBN 4-13-064158-1
ちゅうき 叢書の編集:堂山昌男,山本良一 各章末:文献
ぶんるい 5015
本のしゅるい 一般和書
タイトルコード 1009410009761

もくじ １．　材料のその場評価手法（電子線回折による材料評価
オージェ電子分光による材料評価
エネルギー損失分光による材料評価）
２．　半導体材料プロセスの評価法（半導体材料プロセスとデバイス製作
接合容量による評価
イオン注入層の評価）
３．　力学的性質評価法（従来の材料試験法と破壊力学的試験法
引張試験、圧縮試験
曲げ試験、抗折試験　ほか）
４．　非破壊評価法（超音波探傷試験
放射線透過試験
磁粉探傷試験
浸透探傷試験
電磁誘導試験）
５．　アコースティックエミッションによる材料評価法（ＡＥの原理
ＡＥ計測システム
ＡＥ信号処理パラメータの意味
ＡＥの発生機構
破壊のＡＥ　ほか）


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