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一般和書
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ぞうしょじょうほう

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しょしじょうほうサマリ

本のだいめい

表面分析:SIMS　二次イオン質量分析法の基礎と応用

書いた人の名前 D.ブリッグス／編 M.P.シーア／編 志水隆一／監訳
しゅっぱんしゃ アグネ承風社
しゅっぱんねんげつ 2003.07
本のきごう 428/00052/

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本のばしょ

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No. としょかん 本のばんごう 本のしゅるい 本のばしょ くわしいばしょ せいげん じょうたい
1 鶴舞0210581138一般和書２階開架自然・工学在庫 

かんれんしりょう

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しょししょうさい

この資料の書誌詳細情報です。

本のきごう 428/00052/
本のだいめい 表面分析:SIMS　二次イオン質量分析法の基礎と応用
書いた人の名前 D.ブリッグス／編 　 M.P.シーア／編 　 志水隆一／監訳
しゅっぱんしゃ アグネ承風社
しゅっぱんねんげつ 2003.07
ページすう 429p
おおきさ 21cm
ISBN 4-900508-10-1
はじめのだいめい Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
ぶんるい 4284
いっぱんけんめい 表面(工学) 　 イオンビーム 　 質量分析
本のしゅるい 一般和書
タイトルコード 1009913027031

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